鎢燈絲電鏡(Tungsten Filament Electron Microscopy，WEM)是一種常見的透射電鏡(TEM)，利用結(jié)晶或非晶樣品所產(chǎn)生的散射證據(jù)來(lái)分析材料結(jié)構(gòu)。電子束被放射出來(lái)，經(jīng)過(guò)聚焦實(shí)現(xiàn)功能的集成電路(ASIC)后聚焦到樣品上，然后在樣品上發(fā)生彈性和非彈性碰撞。不同反射角度的電子會(huì)產(chǎn)生不同強(qiáng)度的暗場(chǎng)和亮場(chǎng)效果，提供了微觀結(jié)構(gòu)的信息。
 

　　如何使用鎢燈絲電鏡？
 

　　1.準(zhǔn)備完整設(shè)備，將標(biāo)本拍攝模塊安裝到鎢絲爐板下方。
 

　　2.使用純酸和去離子水清洗標(biāo)本，防止在取樣時(shí)污染標(biāo)本。
 

　　3.使用特制剪刀或者剪切機(jī)器準(zhǔn)確切割樣品。
 

　　4.將樣品放置在聚焦棱鏡上方的夾具中。
 

　　5.封閉開口，活塞推動(dòng)桿上升將樣品送入高真空殼體，然后必須密封。
 

　　6.液氮冷卻鎢絲爐達(dá)到所需溫度，減帶雜質(zhì)并延長(zhǎng)壽命。
 

　　7.確定所有的參數(shù)(如電流和衍射排除片)正確地設(shè)置。
 

　　8.通過(guò)攝像機(jī)和計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行記錄和分析。
 

　　鎢燈絲電鏡的相關(guān)知識(shí)介紹：
 

　　1.鎢燈絲是產(chǎn)生電子束的源頭，它的尺寸和形狀會(huì)影響電子束的大小和聚焦度。通常使用直徑為0.3mm的鎢絲。
 

　　2.電子束可以通過(guò)電子透鏡來(lái)聚焦，從而控制電子束的直徑和密度。
 

　　3.分辨率高達(dá)0.2納米，可以觀察到大量的微觀結(jié)構(gòu)和形態(tài)。由于其較高的分辨率和高質(zhì)量的成像，它是物理、化學(xué)、生物領(lǐng)域等科學(xué)研究的重要工具之一。
 

　　4.主要用于觀察非生物樣品，如金屬材料、半導(dǎo)體、陶瓷、塑料等材料的結(jié)構(gòu)和表面形態(tài)。同時(shí)也可用于研究納米材料、光學(xué)器件等領(lǐng)域。
 

　　5.鎢燈絲電鏡有兩種基本類型：透射電鏡和掃描電鏡。透射電鏡是利用電子束透過(guò)樣品來(lái)形成圖像，而掃描電鏡則是通過(guò)掃描樣品表面產(chǎn)生來(lái)自反射電子的信息來(lái)觀察樣品表面形貌。